ワシントンD.C. で開催されるICSCRM 2017に出展致します
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展示会出展のお知らせ
ワシントンD.C. で開催されるICSCRM 2017に出展致します
SiC 結晶検査機の実機を用いてのデモ測定も行います。ぜひお立ち寄りください！
6インチまでのSiC/GaN/AlN基板をお持ち頂ければ、その基板を用いてのデモ測定も即座に行えます。
弊社CS-1は、結晶材料の結晶ストレスや欠陥の分布画像を高速で取得する検査装置です。
可視光(波長:400~ 800nm)に透過性のある結晶材料である、SiC, GaN, AlN などを非破壊非接触で、ウエハ全面においても数秒で観察できる検査器になります。
