ガラス製造技術とワイドギャップ半導体のセラミックフォーラム

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ワシントンD.C. で開催されるICSCRM 2017に出展致します

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展示会出展のお知らせ

セラミックフォーラムCRYSTALLINE TESTER

ワシントンD.C. で開催されるICSCRM 2017に出展致します

SiC 結晶検査機の実機を用いてのデモ測定も行います。ぜひお立ち寄りください!
6インチまでのSiC/GaN/AlN基板をお持ち頂ければ、その基板を用いてのデモ測定も即座に行えます。

弊社CS-1は、結晶材料の結晶ストレスや欠陥の分布画像を高速で取得する検査装置です。
可視光(波長:400~ 800nm)に透過性のある結晶材料である、SiC, GaN, AlN などを非破壊非接触で、ウエハ全面においても数秒で観察できる検査器になります。

小冊子にて、 CS-1像とX線トポ像との比較データ

CS-1像とX線トポ像との比較

小冊子にて、 CS-1像とX線トポ像との比較 を行なっております。


当社サービスに関するこんなお悩み・ご相談お待ちしております!
  • SiCやGaN などのワイドギャップ半導体に関して質問がある
  • SiCやGaN ウエハに成膜するエピの仕様を決めたい
  • DLTSの測定に関して詳細を知りたい
  • 結晶評価を行いたい
  • ガラスの分析に関して知りたいことがある
  • ガラス溶解炉の生産性向上のための施策を知りたい
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