T°Imager™は、マイクロ電子デバイスの動作中の表面温度を、ディープサブミクロンレベルの高解像熱画像を生成して測定するCCD熱顕微鏡システムです。
システムの詳細情報はT°Imager熱顕微鏡ページへ
セラミックフォーラム(株)では、T°Imager熱顕微鏡システムよる半導体
材料の特性評価に関する受託評価・解析サービスを開始しました。システムのメーカーであるTMX Scientific社(アメリカ)の方で測定サービスを行います(ホットスポットの検出、障害の特定、エレクトロルミネセンス(EL)の測定、パフォーマンスの診断など)。