ガラス製造技術とワイドギャップ半導体のセラミックフォーラム

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分析サービス(T°Imager熱顕微鏡受託測定サービス)

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T°Imagerとは

T°Imager™は、マイクロ電子デバイスの動作中の表面温度を、ディープサブミクロンレベルの高解像熱画像を生成して測定するCCD熱顕微鏡システムです。

システムの詳細情報はT°Imager熱顕微鏡ページへ

受託評価・解析サービス

セラミックフォーラム(株)では、T°Imager熱顕微鏡システムよる半導体
材料の特性評価に関する受託評価・解析サービスを開始しました。システムのメーカーであるTMX Scientific社(アメリカ)の方で測定サービスを行います(ホットスポットの検出、障害の特定、エレクトロルミネセンス(EL)の測定、パフォーマンスの診断など)。



当社サービスに関するこんなお悩み・ご相談お待ちしております!
  • SiCやGaN などのワイドギャップ半導体に関して質問がある
  • SiCやGaN ウエハに成膜するエピの仕様を決めたい
  • DLTSの測定に関して詳細を知りたい
  • 結晶評価を行いたい
  • ガラスの分析に関して知りたいことがある
  • ガラス溶解炉の生産性向上のための施策を知りたい
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