ガラス製造技術とワイドギャップ半導体のセラミックフォーラム

2020年9月8～11日の4日間開催される、応用物理学会に出展いたします。
今回は初めて100％オンライン講演会になり、出展もオンラインで行います。

当社の出展内容：
①　半導体結晶内欠陥検査装置Crystalline Testerシリーズ（自社製）
②　SiC関連製品（SiCrystal、Norstel/ST Micro、Ascatron、NovaSiC、mi2factory）
③　GaN関連製品（Nanowin、Enkris Semiconductor、EtaResearch、Ammono、Unipress、Seen Semiconductor）
④　DLTS分析システム及びDLTSとホール効果受託測定サービスなど（Phystech及び自社製）
⑤　QuanFINE™ GaN-on-SiC HEMT構造（SweGaN）
⑥　(20-21)半極性GaNテンプレート及びLED（Saphlux）
⑦　熱顕微鏡システム（TMX Scientific）
⑧　ガラス欠陥分析・物性測定サービス（Glass Service）

ご参加の際には、是非当社公開ページへお立ち寄りくださいませ。

81回応用物理学会秋季学術講演会
https://meeting.jsap.or.jp/

【日程】
 - 講演会
    2020年9月8日(火)～11日(金)

【場所】
オンライン（Zoomでの受講）