ガラス製造技術とワイドギャップ半導体のセラミックフォーラム

03-5577-2947
平日: 9:30~18:00

技術資料ダウンロード

セラミックフォーラム株式会社 > 技術資料ダウンロード

ダウンロード資料一覧

資料ダウンロードには、フォーム送信によるご登録が必要でございます。

下のボタンより登録フォームページへお進みいただき、
必要事項をご記入の上、送信をお願い致します。

半導体部門資料一覧

資料内容 ダウンロード資料名
Norstel社製半導体 Norstel社製半導体SiC基板2インチ
Norstel社製半導体SiC基板3インチ
Norstel社製半導体SiC基板4インチ
Norstel社製n型SiC基板4インチ
Norstel社 エピタキシーサービス Norstel社 エピタキシーサービス仕様書
Ascatron社プロトタイプデバイス資料 Ascatron_PIN_10kV2A_Package
Ascatron_SBD_1200V15A_TO254
Ascatron_SBD_1200V20A_TO247_2L
Ascatron_SBD_1700V20A_TO247
Ascatron社 エピタキシーサービス資料 Ascatron社 エピタキシーサービス
NovaSiC社 資料 NovaSiC社 CMP加工 参考資料
DLTS資料 DLTS_装置と分析サービスカタログ
GaNウエハ資料 AMMONO GaNウエハ品質紹介
Ammono社2インチ_Cplane_仕様書
Nanowin社製GaNウエハ仕様書
SiC イオン注入 関連資料 SICイオン注入_mi2-factory_会社技術紹介
先進パワーエレIS原稿_Mi2factory_2016年
SiCウエハ資料 SiCrystalウエハ仕様書
SiCデバイスファウンドリ資料 Ascatron_デバイス受託_保有装置一覧
結晶観察装置 CS-1 資料 結晶観察装置 CS-1 仕様書
NDT社製 ダイアモンドプレート NDT社製ダイヤモンドプレート 仕様書

ガラス製造技術部門資料一覧

資料内容 ダウンロード資料名
Vitroflow社資料  VFM仕様書
FLAMMATEC社資料 FT Flex Gas Injector 仕様書
STG社資料 STG社製酸素センサー仕様書 


当社サービスに関するこんなお悩み・ご相談お待ちしております!
  • SiCやGaN などのワイドギャップ半導体に関して質問がある
  • SiCやGaN ウエハに成膜するエピの仕様を決めたい
  • DLTSの測定に関して詳細を知りたい
  • 結晶評価を行いたい
  • ガラスの分析に関して知りたいことがある
  • ガラス溶解炉の生産性向上のための施策を知りたい
お電話でのお問い合わせはこちら
03-5577-2947
平日: 9:30~18:00
WEBからのお問い合わせはこちら