ガラス製造技術とワイドギャップ半導体のセラミックフォーラム

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検査装置

弊社が取り扱っている半導体検査装置のご紹介です。

DLTS測定装置

Windowsベースのソフトウェアで、多様な機能と測定モード、時定数の値の最小3倍までの重なり合う放出信号を分離する新たな測定・解析モード

ラマン顕微鏡

パーフェクト・レゾリューションへと進化。世界最速、最高画質のラマンイメージングを実現

PL マッピング装置

技術本当に必要する機能過不足なく」「価格」で提供するコンセプトのフォトルミネセンス装置

Crystalline Tester結晶内歪観察装置

GaN、SiC、AlN基板などの欠陥や応力によって引き起こされる結晶歪の分布状態を非破壊非接触で簡便に観察

当社サービスに関するこんなお悩み・ご相談お待ちしております!
  • SiCやGaN などのワイドギャップ半導体に関して質問がある
  • SiCやGaN ウエハに成膜するエピの仕様を決めたい
  • DLTSの測定に関して詳細を知りたい
  • 結晶評価を行いたい
  • ガラスの分析に関して知りたいことがある
  • ガラス溶解炉の生産性向上のための施策を知りたい
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