ガラス製造技術とワイドギャップ半導体のセラミックフォーラム

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受託測定サービス

弊社が提供している半導体関連受託測定サービスのご紹介です。

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DLTS受託測定サービス

DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy)法による半導体材料/デバイス中の欠陥評価に関する受託測定・解析サービス


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ホール効果受託測定サービス

Hall効果測定法による半導体材料の特性評価に関する受託評価・解析サービス

TMX Scientific T°Imager
T°Imager熱顕微鏡受託測定サービス

マイクロ電子デバイスの動作中の表面温度を、ディープサブミクロンレベルの高解像熱画像を生成して測定するCCD熱顕微鏡システムでの受託測定・解析サービス

当社サービスに関するこんなお悩み・ご相談お待ちしております!
  • SiCやGaN などのワイドギャップ半導体に関して質問がある
  • SiCやGaN ウエハに成膜するエピの仕様を決めたい
  • DLTSの測定に関して詳細を知りたい
  • 結晶評価を行いたい
  • ガラスの分析に関して知りたいことがある
  • ガラス溶解炉の生産性向上のための施策を知りたい
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