ガラス製造技術とワイドギャップ半導体のセラミックフォーラム

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ホール効果受託測定サービスを開始しました

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ホール効果受託測定サービスを開始について

セラミックフォーラム(株)では、Hall効果測定法による半導体
材料の特性評価に関する受託評価・解析サービスを開始しました。
既に好評を戴いておりますDLTS (Deep Level Transient Spectroscopy)
法による半導体材料/デバイス中の欠陥評価サービスと合わせて、皆様の研究・開発業務にご活用戴たいと存じます。

詳細はホール効果受託測定サービスへ

Hall effect measurement service

当社サービスに関するこんなお悩み・ご相談お待ちしております!
  • SiCやGaN などのワイドギャップ半導体に関して質問がある
  • SiCやGaN ウエハに成膜するエピの仕様を決めたい
  • DLTSの測定に関して詳細を知りたい
  • 結晶評価を行いたい
  • ガラスの分析に関して知りたいことがある
  • ガラス溶解炉の生産性向上のための施策を知りたい
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